ZAKAD PROJEKTOWANIA MATERIAW

język angielskiHome
aktualności badania przemysł edukacja szukaj kontakt mapa serwisu 

Urządzenia

Szukaj    

  sortuj: :

Microlab 350 Skaningowy Analizator Elektronów Augera

Urządzenie podstawowe

Opis:  

Mikroanalizator augerowski Microlab 350 firmy Thermo Electron jest jednym z najnowocześniejszych urządzeń do badania składu chemicznego powierzchni materiałów stałych. Mikroanalizator elektronów Auger'a umożliwia badanie obiektów o szerokości kilkunastu nanometrów i grubości - charakterystycznej dla spektrometrii elektronów Augera tj. rzędu kilku monowarstw atomowych (ułamki nm). Przyrząd umożliwia m.in. badanie nanomateriałów, pozwalając na zobrazowanie rozkładu powierzchniowego i liniowego pierwiastków oraz profilowania ich stężeń w głąb materiału z rozdzielczością nanometryczną (0,5-1 nm) i czułością analityczną rzędu ułamka % at.. Urządzenie to wyposażone jest dodatkowo w działo rentgenowskie, co umożliwia wykonanie analizy XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) przy zachowaniu podobnej głębokości informacji jak dla metody AES (Auger Electron Spectroscopy).

Możliwości analityczne - Microlab 350
  • Otrzymywanie obrazów SE (Secondary Electrons) powierzchni próbki (rozdzielczość < 7 nm).
  • Wykonywanie lokalnych analiz jakościowych (rozdzielczość pozioma < 12 nm, rozdzielczość w głąb 0,5 - 1 nm; zakres analizowanych pierwiastków od litu (Z = 3) wzwyż; wykrywalność ok. 0,3 % at.).
  • Wykonywanie obrazów powierzchniowego rozmieszczenia pierwiastków (rozdzielczość < 20 nm).
  • Wykonywanie analiz liniowych rozmieszczenia pierwiastków.
  • Określanie względnej zawartości pierwiastków w nanoobszarach (dokładność analizy > 10 % wzgl.).
  • Określanie stanu chemicznego atomu w nanoobszarach (rozdzielczość energetyczna 0,06%).
  • Badanie bardzo cienkich warstw powierzchniowych (ARAES, Angle Resolved Auger Electron Spectroscopy).
  • Wyznaczanie profili zmian składu chemicznego w głąb materiału (połączone z funkcją trawienia jonowego (Ar+)).
  • Badania powierzchni ciał stałych za pomocą rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów (XPS) umożliwiają: identyfikację stanu chemicznego składników badanego materiału, rozszerzenie gamy możliwych do analizy materiałów o dielektryki (polimery, materiały tlenkowe- szkła, ceramika), precyzyjną analizę profilu głębokościowego próbek (zmiany stanu chemicznego składników próbki w kolejnych warstwach – po trawieniu).
  • Badanie segregacji pierwiastków na granicach ziaren (urządzenie wyposażone jest w łamacz próbek w próżni w temperaturze ciekłego azotu).
  • Rozróżnianie struktur krystalograficznych np. grafitu, diamentu, węgla amorficznego - Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS).
  • Rozróżnianie stanów chemicznych atomu - (AES+NLLSF (Non Linear Least Square Fitting), REELS).
  • Wyznaczanie średniej nieelastycznej drogi swobodnej elektronów metodą elektronowej spektroskopii piku elastycznego - EPES (Elastic Peak Electron Spectroscopy).

    Osoba do kontaktu:  Dr inż. Marcin Pisarek

  • © Zakład Projektowania Materiałów

    home :: aktualności :: badania :: przemysł :: edukacja :: szukaj :: kontakt :: mapa serwisu